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Stemi2000-C体视显微镜

蔡司工业显微镜_Stemi2000-C体视显微镜

蔡司体视显微镜Stemi2000-C主要用于产品的宏观检验,能够检验断口内的裂纹(挤压裂纹、淬火裂纹、铸造裂纹)、裂口、纵向裂纹、焊接不良、疏松、氧化膜、气孔等宏观缺陷。

一、蔡司工业显微镜_Stemi2000-C体视显微镜特点
1、图像质量:提供高反差、高衬度、高分辨率的三维图像
2、光学系统:ICCS光学系统
3、显微观察技术: 防眩光技术
4、设计理念: 人机工程学原理, 模块化设计和开放式结构,保留了所有选择项,便于日后的升级和功能增强。
二、蔡司工业显微镜_Stemi2000-C体视显微镜技术参数
1、总放大倍率:1.95X-250X
2、最大工作距离为286mm
3、基本物体视场直径为35mm
4、冷光源:8V20W(12V75W, 15V150W 24V250W)
5、可扩展性:可配图像分析系统(数码相机、摄像头、图像分析软件)

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